产品详情
能快速准确地测量各类平面、球面、斜面等光学元件的相/绝对透射率及漫透射测量，可用于实时显示单、
多点波长透过率数据及指定波段平均透过率数据、实时显示半透波长及斜率等。适用于手机盖板IR孔、隐
藏孔（雾化孔、闪光灯孔）、弧形边IR孔(2.5D 、3D)、镀膜镜、胶合镜、平行平板、太阳膜、滤光片光
学元件等的透光率测量。
●采用全角度采集全穿透式测量。
●采用视频对焦，使定点测量更直观更精准。
●实时显示测量样品关注波长位置的透射率数据及半透波长监测，自动调整显示坐标范围，高效地进行批量
样品检测及谱图对比分析。
●检测时间毫秒级：高性能探测器，可在1秒内时间重现性高的测定。
●可以自行定义测量的方案，同时设置判定标准，使检测更快速，结果更准确。
技术规格：
| 测量系统 | 单束光 | 测量方式 | 全角度采集全穿透式测量 |
| 检测器 | Hamamatsu（薄型背照式FFT-CCD） | 检出限 | 0.05% |
| 光度准确性 | 0.5%（400-1000nm）与标样比 | 光度重复性 | 0.2% |
| 样品测试平台 | X/Y轴可调 | 样品大小 | ≥0.5mm |
| 光斑直径 | ＜0.3mm | 测量时间 | ＜0.5s |
产品应用
*L为测量长度，单位：mm
| 测量系统 | 单束光 | 测量方式 | 全角度采集全穿透式测量 |
| 检测器 | Hamamatsu（薄型背照式FFT-CCD） | 检出限 | 0.05% |
| 光度准确性 | 0.5%（400-1000nm）与标样比 | 光度重复性 | 0.2% |
| 样品测试平台 | X/Y轴可调 | 样品大小 | ≥0.5mm |
| 光斑直径 | ＜0.3mm | 测量时间 | ＜0.5s |
视频
产品资料
联系方式
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